二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS）是一种用于深度分析样品表面和亚表面结构的分析技术；它通过将样品表面溅射出二次离子，然后利用质谱仪分析这些离子的质量和浓度，从而获取样品表面和亚表面的化学成分和...

原子荧光光谱（Atomic Fluorescence Spectrometry, AFS）技术是一种用于元素分析的强大手段，以其高灵敏度、高选择性等优点在环境、地质、生物、医药等领域得到广泛应用。...