基于stm32f103ze hal库的内部flash磨损均衡算法的实现与测试

2022-05-09 20:11:52 浏览数 (1)

stm32f103ze是大容量的芯片,每个page2k字节,每次至少写2字节,即2*n字节数量,通常情况下,写入数据都是1->0,而不能0->1,因为这个是flash的特性决定的,如果是0->1的操作,那么必须要整个page擦除,这个和eeprom是不一样的, eeprom是可以按字节进行读写的,当然容量没有flash大,因此各有利弊。

通常,stm32flash可以来保存一些数据,可行方案有在固定的地址中,写入数据,每次写入数据,都要将原有的数据保存到sram中,然后加上新的数据,执行擦除操作后,一并写入数据,这样基本上每次写入数据都有擦除一遍。比较费flash,通常擦除1万次或者10万次吧。简单的需求是应该足够了,原子的flash算法就是这样的,但是有bug,需要改一下的。

网上我看到一个好理解的算法,链接:https://zhuanlan.zhihu.com/p/81108712,就是开辟一个page作为一个数据(一个模块的数据,不一定是一个字节)的保存空间,每次保存数据的时候, 就是将前面的空间清零,前面说过flash可以1->0操作的,后面的空间如果还有,那就就写入写的数据,如果本page的2kb都已经作品过一遍了,那么就直接擦除这个page,从头开始写入数据。这样可以降低擦除的次数, 延长flash的寿命,这个就是典型的空间换时间的算法,利用2kb来保存单个模块的数据,如果数据量很大,其实擦除的次数也就提高了。

具体的代码,链接上都有的,可以自己体验一把,就是读的函数没有实现,也是挺简单的。

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