动态电压降往往是在进行物理设计后期来进行的一项检查。
因为需要前端工程师提供准确的vcd或者saif文件来进行switching activity的反标。
这时候修改电源网络可能并不适合。
这里盘点修复动态电压降的一些方法：
cell pading
尤其对于clock cell，由于翻转率高，应当避免多个clock cell集中于一处，加cell pading是个不错的方法。
downsize
downsize不仅可以降低cell的功耗。留出来的空位也可加以利用。比如，加上decap cell。
split output capacitance
有动态功耗的公式可以知道，减少load可以减少cell本身的动态功耗。通过buffer将长net切断，将有助于降低局部的动态电压降。
inserting decap cell
decap cell对于动态功耗意义非凡，尤其是decap对于与其附近，且相同row之内的cell的作用，会非常有效。
end
工艺尺寸的缩小，我们的芯片正从gate-dominated变为wire-dominated，同时频率也在不断的提升。
wire-dominated，意味着没有更多的绕线资源用用作电源网络。
频率的提升，意味着动态电压降会变得更加严重。
所有这些，需要我们采用以上提到的方法进行动态电压降的优化，而且这些方法会越来越重要。
